【概要・特長】

【製品の概要・特長等】
●粒子径分布、粒子形状を同じポイントで同時計測。
●レーザ回折・散乱法（LD）＋動的画像解析法（DIA）=無限の可能性。
●LDによる全体像の把握、DIAによる局所的な解析（凝集体など）。
●湿式測定、乾式測定の切り替えは、モジュール切り替え簡単操作。
●LDは3本レーザ光学設計により、最高峰の粒子径分布分解能を実現。
●DIAにより、球形、楕円短径、楕円長径など様々な指標で粒子径分布を表現、また、円形度、アスペクト比などの形状指数も出力可能。
●新発想、LDとDIAのシンクロナイズ／ブレンドアルゴリズムにより、従来の方法では見えなかったものが見えてくる。
【仕様・用途等】
●測定原理、測定範囲
　・粒子径分布：レーザ回折・散乱法（LD）
　・粒子形状：動的画像解析法（DIA）
　・測定範囲：0.02〜2000μm
●LD：半導体レーザ 波長780nm、出力3mw 3本搭載
　DIA：5.2 megapixel（2560×2048）、22fps at max res.
●ISO準拠：LD 13320、DIA 13322
●FDA Part11およびデータインテグリティに対応
●多種多様な適応材料、アプリケーション
　3Dプリンター用金属材料、ガラスビーズ、セラミックス、樹脂、建築材料（骨材、セメント）、電池材料、製薬、食品、香粧品等