【概要・特長】

【製品の概要・特長等】
本装置は画期的な後方散乱光検出システムと、FFT・ヘテロダイン法を採用し、高濃度測定はもとより従来の光子相関法では困難であった高分解能を実現した超微粒子粒子径分布測定が可能。
粒子径分布測定、ゼータ電位測定機能、そして分子量測定機を備えた、1台で3つの物性測定が可能な装置。
電極の抜き差しや試料の入れ替えなく測定が行え、測定時間の短縮や試料の使用量を抑えることが可能。
希薄系（ppm）から濃厚系（数 wt%）まで幅広い試料の測定が可能。
キュベットセルにも対応。

【仕様・用途等】
●測定原理：
　ゼータ電位測定：電気泳動法 周波数解析（FFT-ヘテロダイン法）
　粒子径測定：動的光散乱法 周波数解析（FFT-ヘテロダイン法）
●測定範囲：ゼータ電位測定：－200〜＋200mV
粒子径測定：0.8〜6500nm
分子量：300Da〜20MDa
●光源：半導体レーザ780nm（2本） 3mW
●光学プローブ：内部プローブ式
●外形寸法・質量：386（W）×330（H）×368（D）mm　6.8kg
●光軸調整・焦点調整：不要