Top  > 粉粒体計測機器  > 粉粒体計測機器  > 粉粒体計測機器

比表面積/細孔分布測定装置 3Flex


【概要・特長】

高効率、高感度、高精度を同時に実現した比表面積/細孔分布測定装置の最上位機種です。極低圧領域を含む全領域での圧力制御・検出機能を強化、マイクロポア細孔分布測定、低比表面積測定を最大3ポートで同時高精度測定が可能になりました。MOF(金属-有機構造体)などの革新的な多孔性材料の高精度評価に対応します。

●測定方式:定容法によるガス吸着法
●測定範囲:比表面積:0.0005m²/g以上(クリプトン使用時)
      細孔分布:直径約0.35〜500nm(解析条件による)
●使用ガス:窒素、アルゴン、クリプトンなどの腐食性のないガスおよび蒸気


PAGE TOP