Top  > 粉粒体計測機器  > 粉粒体計測機器  > 粉粒体計測機器

画像式粒度分布測定装置カムサイザーX2


【概要・特長】

自由落下(乾式)、圧縮空気(乾式)、溶媒(湿式)の3種類から分散媒を選べるため、凝集した試料の1次粒子径、2次粒子径を共に測定することが可能です。
ふるい試験結果と最高精度の互換性。
0.8μm〜8mmの広い範囲の粒子を一度に測定でき、数分で数十万〜数百万個の粒子径情報を解析し、高い統計的有意性をもった粒子径分布結果が得られます。
アスペクト比、真円度、左右対称性、凸凹度、透明度などの形状分析も可能です。測定後にほとんど手間がかからず、メンテナンスフリー。

【仕様】
●測定範囲:標準0.8μm〜8mm
 10μm〜8mm(X-Fall)、乾式
 0.8μm〜5mm(X-Jet)、乾式
 0.8μm〜1mm(X-Flow)、湿式
●測定時間1〜3分:(ご希望の測定値により異なります)
●測定能力:毎秒300画像>4.2Mピクセル
●寸法(W×H×D):850×580×570mm


PAGE TOP